半導体デバイスの生産工場における評価・検査向けテストの基礎技術：テスター構成


　　　　　

シェアードＤＣリソースの構成１



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シェアードＤＣリソースの構成２



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パーピンＤＣリソースの構成１



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パーピンＤＣリソースの構成２



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シェアードとパーピンＤＣリソースの併用構成



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