電子・半導体デバイスの生産工場における評価・検査向けDCテストの基礎技術
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周波数特性測定(出力固定)
バルボル(真空管電圧計)と発振器による出力レベル固定の測定
ACテストの基礎 アナログ法関連コンテンツ
混変調歪測定(CCIF法)
ボルトメータ、発振器とウィーンブリッジ・負帰還アンプよる歪率測定
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ゲイン測定
バルボル(真空管電圧計)と発振器による測定
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S/N比測定(聴感補正)
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主要テスタの構成
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ATEテスト並列化の歩み
テスタの同時測定(効率化を含む)の歩み
テスタの同時測定(DCリソース)の歩み
テスタの同時測定(ACリソース)の歩み
マルチサイト対応ソフトの構成
テスト時間短縮のための基礎技術
バックグラウンド処理
シングルポートとデュアルポートメモリ
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周波数分割の信号処理
DCテストの基礎
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差動電圧測定
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シーケンスDC測定の基本動作と構成
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ACテストの基礎 アナログ法
ピーク値、平均値、実効値
波形の比較を定義
デシベルの定義
ゲイン
ゲイン:入出力電圧比
電圧メータ:VU計
ゲイン測定
低レベル入力のゲイン測定
周波数特性測定(入力固定)
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S/N比測定(聴感補正)
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混変調歪測定(CCIF法)
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テスタのためのデジタル信号処理入門
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サンプリングによる周波数帯域と分解能
データー取得後のデータ処理
周期性と窓関数
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テストパッケージの開発に応用
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