半導体デバイスの生産工場における評価・検査向けテストの基礎技術:テスター構成
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バックグラウンド処理
シングルポートとデュアルポートメモリ
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DCテストの基礎
定電流源と定電圧源
差動電圧測定
4端子(ケルビン)接続
ATEによる接続例
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オペアンプの基本構成
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ACテストの基礎 アナログ法
ピーク値、平均値、実効値
波形の比較を定義
デシベルの定義
ゲイン
ゲイン:入出力電圧比
電圧メータ:VU計
ゲイン測定
低レベル入力のゲイン測定
周波数特性測定(入力固定)
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S/N比測定
S/N比測定(聴感補正)
歪率測定(全高調波:周波数選択)
歪率測定(全高調波:周波数可変)
混変調歪測定(CCIF法)
クロストーク測定
組み込みメモリテスト
アルゴリズミックパターン例
テスタ構成例
RF変調波形のEVM評価法
EVMの定義
EVMの基本測定例
ATEによる側定応用例1
ATEによる側定応用例2
EVMの不良解析フロー
RFデバイスの新しいEVM測定手法
RFのCAEによるモデルの評価・量産テスト
RFパワーアンプのモデルによるEVM測定手法
RFパワーアンプの伝達関数のモデル
RFパワーアンプの伝達関数の測定例
RFのCAEによるモデルと変復調方式の比較
テスタのためのデジタル信号処理入門
デジタル信号処理とは その1
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サンプリングによる周波数帯域と分解能
データー取得後のデータ処理
周期性と窓関数
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失敗しても安全に
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危なくなったら働く仕掛け
右脳を活用するとは?
テストパッケージの開発に応用
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