電子・半導体デバイスの生産工場における評価・検査向けACテストの基礎技術
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ローエンドテスタの構成要求
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パソコンを使用したテスト構成とは
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主要テスタの構成
Tester1のテスト構成
Tester2のテスト構成
Tester3のテスト構成
Tester4のテスト構成
Tester5のテスト構成
ローエンドテスタの構成
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ATEテスト並列化の歩み
テスタの同時測定(効率化を含む)の歩み
テスタの同時測定(DCリソース)の歩み
テスタの同時測定(ACリソース)の歩み
マルチサイト対応ソフトの構成
テスト時間短縮のための基礎技術
バックグラウンド処理
シングルポートとデュアルポートメモリ
時分割の信号処理
周波数分割の信号処理
DCテストの基礎
定電流源と定電圧源
差動電圧測定
4端子(ケルビン)接続
ATEによる接続例
シーケンスDC測定の基本動作と構成
シーケンスDC測定の基本動作と構成
オペアンプの基本構成
オペアンプの基本構成
ACテストの基礎 アナログ法
ピーク値、平均値、実効値
波形の比較を定義
デシベルの定義
ゲイン
ゲイン:入出力電圧比
電圧メータ:VU計
ゲイン測定
低レベル入力のゲイン測定
周波数特性測定(入力固定)
周波数特性測定(出力固定)
S/N比測定
S/N比測定(聴感補正)
歪率測定(全高調波:周波数選択)
歪率測定(全高調波:周波数可変)
混変調歪測定(CCIF法)
クロストーク測定
組み込みメモリテスト
アルゴリズミックパターン例
テスタ構成例
RF変調波形のEVM評価法
EVMの定義
EVMの基本測定例
ATEによる側定応用例1
ATEによる側定応用例2
EVMの不良解析フロー
RFデバイスの新しいEVM測定手法
RFのCAEによるモデルの評価・量産テスト
RFパワーアンプのモデルによるEVM測定手法
RFパワーアンプの伝達関数のモデル
RFパワーアンプの伝達関数の測定例
RFのCAEによるモデルと変復調方式の比較
テスタのためのデジタル信号処理入門
デジタル信号処理とは その1
デジタル信号処理とは その2
サンプリングによる周波数帯域と分解能
データー取得後のデータ処理
周期性と窓関数
失敗を重ねないために
失敗しても安全に
失敗にしないでしのぐには
危なくなったら働く仕掛け
右脳を活用するとは?
テストパッケージの開発に応用
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